Методы исследования структур кристаллов. Фазовый анализ и прецизионные измерения параметра решетки
- Год
- 2005
- Библиотечный номер
- 2
- Авторы
- Мильвидский А.М.
- Предмет
- Технологии материалов
- Специальность/направление
- Материаловедение и технология новых материалов; электроника и наноэлектроника; электроника и микроэлектроника; техническая физика
- Вид методического издания
- Лабораторный практикум
- Артикул
- 001019
Данное пособие поможет студентам освоить методики определения фазового состава и прецизионного изменения межплоскостных расстояний, широко используемых в материаловедческой практике. Пособие предназначено для студентов специальностей 071000, 210100, 550700, 553100
| Формат | А5 |
|---|---|
| Переплет | Мягкий |
| Аудитория | Студенты |
| Кафедра | Кафедра материаловедения полупроводников |
| Издательство | Издательский Дом НИТУ "МИСиС" |
| Библиотечн. номер | 2 |