Физика реального кристалла
- Год
- 2013
- Библиотечный номер
- 2290
- Авторы
- Диденко И.С., Козлова Н.С., Кугаенко О.М., Петраков В.С.
- Предмет
- Технологии материалов; физика
- Специальность/направление
- Техническая физика; материаловедение и технологии материалов
- Вид методического издания
- лабораторный практикум
- Артикул
- 000319
Лабораторный практикум включает в себя материал, необходимый для подготовки и проведения лабораторных работ по дисциплине «Физика реального кристалла». Изложены основы теории изучаемых явлений, описание аппаратуры и методик измерения. Цель лабораторного практикума – приобретение студентами практических навыков исследования механических и электрофизических свойств кристаллов, определения концентрации точечных дефектов в кристаллах оптическим методом и влияния точечных дефектов на оптические свойства кристаллов. В процессе выполнения лабораторных работ студенты осваивают методики измерения микротвердости, микрохрупкости, электропроводности и спектров поглощения диэлектрических кристаллов, а также приобретают навыки определения величин, характеризующих дефекты в кристаллах, в том числе определение концентрации точечных дефектов. Лабораторный практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлениям подготовки магистров 223200.68 «Техническая физика», 150100.68 «Материаловедение и технологии материалов»
Формат | А5 |
---|---|
Переплет | Мягкий |
Аудитория | Студенты |
Кафедра | Кафедра материаловедения полупроводников и диэлектриков |
Издательство | Издательский Дом НИТУ "МИСиС" |
Библиотечн. номер | 2290 |
ISBN | 978-5-87623-747-7 |