Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений
- Год
- 2002
- Библиотечный номер
- 1655
- Авторы
- Иванов А.Н., Поляков А.М.
- Предмет
- Технологии материалов
- Специальность/направление
- 07090.00; 5104.03; 5104.11
- Вид методического издания
- Учебное пособие для студентов специальности 0709.00 и направлений 5104.3 и 5104.11
- Артикул
- 001252
В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта. Описаны основные принципы статистической динамической теории рассеяния рентгеновских лучей кристаллами, содержащими дислокации и др.угие дефекты второго класса по классификации М.А. Кривоглаза. Пособие по специальному курсу «Дифракционные методы исследования» предназначено для студентов специальности 07090.00 и направлений 5104.03 и 5104.11, а также может быть использовано студентами и аспирантами, выполняющими НИР в области материаловедения
Формат | А5 |
---|---|
Переплет | Мягкий |
Аудитория | Студенты; аспиранты |
Институт | Технологический университет |
Кафедра | Кафедра физического материаловедения |
Издательство | Издательский Дом НИТУ "МИСиС" |
Библиотечн. номер | 1655 |