Обеспечение надежности электронных компонентов космических аппаратов

В учебном пособии изложены основы современных методов обеспечения надежности электронных компонентов космических аппаратов (КА), работающих в специфических условиях длительного воздействия космической радиации. Для основного класса электронных компонентов, широко применяемых в аппаратуре КА – полупроводниковых приборов и микросхем, показана эффективность комплексного использования радиационных воздействий испытательного, отбраковочного и технологического характера для решения проблем обеспечения их надежности и радиационной стойкости. В пособии даны сведения о радиационной обстановке в околоземном космическом пространстве, приведен анализ физических эффектов в приборах и микросхемах при облучении, изложены научно обоснованные рекомендации по оптимизации режимов испытаний, расчету необходимой локальной защиты микросхем, разработке оптимальных вариантов радиационно-термических тренировок и радиационно-термических процессов для улучшения параметров, повышения стойкости приборов и микросхем к радиации, отбраковки приборов со скрытыми дефектами. Содержание пособия соответствует программе курса «Основы лучевой технологии микроэлектроники». Учебное пособие предназначено для студентов специальностей 200100 и 200200 «Микроэлектроника и твердотельная электроника», а также будет полезно при выполнении дипломных и диссертационных работ в области радиационной физики, радиационного материаловедения и технологии приборов и микросхем, применяемых в аппаратуре КА