Патентные исследования. Анализ патентной ситуации

Есть в наличии
395
В корзину
Год
2015
Библиотечный номер
2910
Авторы
Рожнов А.Б., Турилина В.Ю.
Предмет
Технологии материалов
Вид методического издания
учебное пособие
Артикул
000011
В пособии кратко описываются основные типы патентных исследований: анализ общей патентной ситуации, исследования технического уровня объекта техники, тенденций развития, патентоспособности, патентной чистоты. Показаны принципиальные отличия этих видов патентных исследований друг от друга по содержанию. Перечислены и охарактеризованы основные этапы проведения патентных исследований, включая общий порядок проведения, составление регламента поиска, поиск и отбор патентной и другой документации, систематизация и анализ отобранной документации. Более подробно описываются патентные исследования по анализу общей патентной ситуации. Рассмотрены особенности проведении патентного поиска в различных базах данных в сети интернет: в базе данных ФИПС, Espacenet, Questel. Проанализированы особенности используемых подходов, достоинства и недостатки этих баз данных, даны рекомендации по проведению поиска. Предназначено для студентов спецкурса «Разработка и коммерциализация новых материалов» и студентов старших курсов, обучающихся по любым техническим специальностям, а также инженеров, аспирантов и научных сотрудников, профессиональная деятельность которых связана с созданием новых объектов техники. Пособие подготовлено в рамках выполнения работ по Договору № 14.А12.31.0001 от 24.06.2013 г
Формат А5
Переплет Мягкий
Аудитория Студенты; аспиранты; специалисты
Кафедра Кафедра металловедения и физики прочности
Издательство Издательский Дом НИТУ "МИСиС"
Библиотечн. номер 2910
ISBN 978-5-87623-977-8