Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов
- Год
- 2009
- Библиотечный номер
- 1296
- Авторы
- Векилова Г.В., Иванов А.Н., Ягодкин Ю.Д.
- Предмет
- Нанотехнологии
- Специальность/направление
- Наноматериалы; материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем
- Вид методического издания
- учебное пособие
- Артикул
- 000775
В учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. Соответствует программе курса «Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов». Предназначено для студентов, обучающихся по направлению «Нанотехнология» (специальность «Наноматериалы») и по направлению «Материаловедение и технологии материалов» (профиль «Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем»)
Формат | А5 |
---|---|
Переплет | КБС |
Аудитория | Студенты |
Кафедра | Кафедра физического материаловедения |
Издательство | Издательский Дом НИТУ "МИСиС" |
Библиотечн. номер | 1296 |
ISBN | 978-5-87623-228-1 |