Определение параметров полупроводника по температурным зависимостям ЭДС Холла, времени жизни носителей заряда и электропроводности
- Год
- 2002
- Библиотечный номер
- 1641
- Авторы
- Маняхин Ф.И.
- Предмет
- Электроника
- Специальность/направление
- 6541; 5531; 5507; 200100; 071000
- Вид методического издания
- Методические указания к выполнению курсовой работы для студентов направлений 6541, 5507, 5531, обучающихся по специальностям 200100, 071000
- Артикул
- 001132
Приведены ширины запрещенной зоны, энергии ионизации примесных и рекомбинационных центров – по температурным зависимостям ЭДС Холла, времени жизни носителей заряда и электропроводности. Описана интерактивная компьютерная расчетная программа в среде Mathcad, имитирующая реальную ситуацию экспериментального исследования свойств полупроводника по температурным зависимостям его основных параметров. Приведено подробное поэтапное описание методики расчета, а также программа расчета в среде Mathcad с описанием файлов основной программы и субпрограмм. Предлагаемая методика может быть использована как в учебном процессе, так и в научных исследованиях. Пособие состоит из двух частей. Первая часть предназначена для студентов направлений 6541, 5531, 5507, обучающихся по специальностям 200100, 071000, выполняющих курсовую работу по физике твердого тела. Вторая часть предназначена для преподавателей, составляющих задания к курсовой работе
Формат | А5 |
---|---|
Переплет | Мягкий |
Аудитория | Студенты; преподаватели |
Кафедра | Кафедра полупроводниковой электроники и физики полупроводников |
Издательство | Издательский Дом НИТУ "МИСиС" |
Библиотечн. номер | 1641 |